激光扫描仪T-SCAN 蔡司自动化3D 三维 ZEISS

蔡司自动化3D 三维激光扫描仪 ZEISS T-SCAN 

简单的假彩色偏差对比，用于快速质量评估具有独特ZEISS T-SCAN激光扫描仪自动化测量配置，确保在的质量控制中执行重复的测量任务，并达到非常的工作流程（例如，与生产周期同步的统计过程控制的完全集成解决方案）。即使是难以接近的目标区域，紧凑型激光扫描仪也能轻松进行数据采集，同时在zui短的时间内提供的三维数据，展现了其的性能优势
广泛的应用范围，保证了应用的灵活性和生产的性

凭借其出色的动态范围ZEISS T-SCAN激光扫描仪可以在各种表面上进行测量，而无需进行耗时的零件准备，系统可实现无可比拟的数据获取速率。

此外，较短的测量距离和zui大灵活性的宽泛的扫描线/机器人路径引导，保证zui大限度地减少所需的编程时间。

在整个扫描过程中，可以通过实时显示观察已经被测物体的区域，从而可以完全控制测量过程的进展情况。

高数据质量和精度

凭借其出色的数据质量和高度的测量结果，ZEISST-SCAN激光扫描仪是质量控制中要求严格应用的理想扫描工具。

由于扫描仪特定的三角测量角度，测头也完全适用于间隙和面差测量。

创新的高端技术，使您获得更高的灵活性和更高的效率

高动态范围：
在一个扫描路径中测量不同的物体表面，无需费时的准备

• 测量过程中的实时显示

• 适应几乎所有常见的机器人类型/制造商

• 光学传感器和单一来源的自动化解决方案，所有组件都地相互匹配

• 由于宽泛的扫描线/机器人路径引导和小测量距离，优化了编程过程

• 个性化的整体决方案获得zui优化的整合结果

ZEISS T-SCAN 自动化令人印象深刻的性能

• 测量速度高
• 测量距离短、结构紧凑的测头是复杂几何形状
使用的zui佳辅助功能
• 通过光学跟踪装置获得极高的测量精度，并独
立于机器人精度
ZEISS T-SCAN 自动化
间隙和面差测量

ZEISS T-SCAN自动化 - 技术数据传感器
测量深度             +/-50毫米
线宽                 达到 125 mm
平均工作距离         150 mm
激光线频率           达到 330 Hz
数据获取速率         每秒210.000点
平均点间距           0.075 mm
每行点数             1317
激光类型/波长        二极管/ 658纳米        
激光等级             2M

激光扫描仪T-SCAN

蔡司3D三维激光扫描仪 ZEISS T-SCAN
创新的激光扫描完整解决方案以全新的面貌再次增强了本来所具有的高性能、用户友好和灵活性

由于手持式激光扫描仪ZEISS T-SCAN CS的应用，使得快速、直观和高度的3D扫描在坐标测量技术中进入全新的高度。革新且一体化的设计理念，包括匹配的辅助装置（跟踪仪、手持式扫描仪和接触式测头），为种类繁多的应用提供了zui大的灵活性。高性能的软件平台colin3D能够在整个测量过程中，始终如一地保持并始终坚持以项目为导向的作过程。
面向用户的、人性化的系统设计和易于作的数据采集
ZEISS T-SCAN激光扫描仪的设计完全符合人体工学原理。可根据作者的需求量身定制，保证了扫描过程直观、无疲劳感。由于配备了重量轻、结构紧凑的测头，该系统非常适合于数据捕获，即使zui难以到达的区域也不例外。 的技术特性，例如，针对各种对象的表面进行高动态范围内的数据采集，而其所具有的迄今不可见的数据速率可以达到无可比拟的扫描速度并得到的测量结果。

手持式测头进行快速点测量 

ZEISS T-POINT接触测头快速可靠地测量所选择的测量点，使其成为在物体区域内进行单点测量的解决方案，如（修剪）边缘和规则的几何形状。该装置可与传统的测头一起使用，测头更换更加简单、快速。ZEISS 

T-SCAN:用手持式激光扫描仪快速、直观的捕获三维数据

三维检测动态参考

即使在移动的物体上也能得到高精密的三维数据记录，通过采用动态参考功能，在恶劣的环境条件下可以独立执行测量工作，如振动（生产环境中，例如冲压车间或加工部件：对移动车门的密封进行测量）。

通用软件接口
三维检测从数据采集到数据处理，数据比较 - ZEISS T-SCAN系统可以通过众多直接的实时接口进行控制。因此，可以轻松集成到现有的工艺流程中。
ZEISS colin3D软件支持的工作流程

手持式测头ZEISS T-POINT - 理想的便携式坐标测量机，便于单点测量

三维检测用于不同的测量体积的光学跟踪系统

从小型到大型的物体 - 系统配置“CS+”和“LV”，为您的个人测量应用提供理想解决方案。
ZEISS T- TRACK CS+“plus”体现的灵活性
ZEISS T-TRACK CS +光学跟踪系统与所有其他系统组件进行优化匹配，因此开辟了广泛的测量应用领域。极高的数据处理速率使测量具有zui高的速度，有利于zui大限度地减少物体扫描过程的时间。

ZEISS T-TRACK LV大范围跟踪仪
通过采用创新型扫描和跟踪相结合的独特大范围测量，您将在光学三维数字化中获得全新的视角。现在您可以更快、更容易地记录大型物体的3D数据 -手持式激光扫描仪的高扫描速度和高达35立方米的跟踪范围，为您进行有效的测量处理提供zui大可能的运动自由，ZEISS colin3D软件支持的工作流程。

应用范围广泛 
质量控制/检验-比较CAD数据-边界/边缘提取（钣金件）-与生产有关的检查 
模具和模具制造-刀具重建-用于生成铣削刀具路径的扫描数据-刀具释放时的实际3D数据文档复杂焊接结构的检验-设置仪表和安装夹具 
快速制造-三维数据扫描用于快速成型 
逆向工程-高度复杂几何形状测量的逆向工程 
设计-设计模型的扫描，用于进一步处理 CAD数据、文档
特征线的捕获-基面（对齐）的快速扫描 
复杂组件的动态捕获，例如装夹过程 
考古学、艺术 /历史文物的扫描 

医疗技术应用（动作捕捉等）